【英文标准名称】:Textiles-Testsforcolourfastness-Calculationofcolourdifferences
【原文标准名称】:纺织品.色牢度试验.色差计算
【标准号】:BSENISO105-J03-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-11-30
【实施或试行日期】:2009-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:CIELAB公式;色度量度;色差;色牢度;色牢度试验;计算机程序;染料;数学计算;测试;纺织材料
【英文主题词】:CIELABformulae;Colorimetricmeasures;Colourdifferences;Colourfastness;Colour-fastnesstests;Computerprograms;Dyes;Mathematicalcalculations;Testing;Textiles
【摘要】:
【中国标准分类号】:W55
【国际标准分类号】:59_080_01
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforAbrasionResistanceofConcrete(UnderwaterMethod)
【原文标准名称】:混凝土耐磨蚀性的标准试验方法(水下法)
【标准号】:ASTMC1138-1997
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑;试验;混凝土;磨蚀
【英文主题词】:Abrasion;Concretes;Construction;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q13
【国际标准分类号】:91_100_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学 >>
集成电路、微电子学
|
| 替代情况： | SJ/T 10741-1996(原标准号GB 3834-1983) |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 2000-12-28 |
| 实施日期： | 2001-03-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2011-08-15 |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 李燕荣、孙人杰 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2001-02-01 |
| 页数： | 37页 |
适用范围
本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
SJ/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路
SJ/T 10734-1996 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学