【英文标准名称】:Methodsoftestingvitreousenamelfinishes-Resistancetohotsodiumhydroxidesolution
【原文标准名称】:釉层精整试验方法.第17部分.热氢氧化钠耐受性
【标准号】:BS1344-17-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-07-15
【实施或试行日期】:1998-07-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐碱试验;试样;非金属覆层;釉层;精整;耐化学性试验;陶瓷涂层;覆层
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_50
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Stainlesssteelbasedalloysforsurgicalimplantapplications--Part2:Wroughthighnitrogenstainlesssteel
【原文标准名称】:外科植入物用不锈钢基合金.第2部分:锻制的高氮不锈钢
【标准号】:JIST7403-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-25
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonMedicalEquipment
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,外科ィンプラントを製造するために使用される高窒素ステンレス合金鍛造材の化学成分,機械的性質及びその試験方法について規定する。
【中国标准分类号】:C35
【国际标准分类号】:11_040_40
【页数】:14P;A4
【正文语种】:日语
基本信息
| 标准名称： | 半导体光电子器件2CW50～78型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete devices-Detail specification for Types 2CW50~78 glass passivation package Silicon voltage-regulator diodes |
| 中标分类： |
|
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 1999-11-10 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 国营第八七三厂 |
| 起草人： | 陈凯、刘宗永 |
| 出版社： | 中国电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1999-12-01 |
| 页数： | 15页 |
适用范围
本规范规定了2CW50～78（原企业型号为BWA50～78）型玻璃钝化封装硅电压调整二级管（以下简称器件）的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
前言
没有内容
目录
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引用标准
GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
所属分类：